课程培训
DFT可测试性设计培训课程

DFT可测试性设计培训课程

 

培训大纲

第一阶段

 

课程大纲:

 

1. VLSI test

 

2. DFT要点

 

3. DFT设计流程

 

4. DFT设计技巧

 

5. Fault model

 

6. ATPG

 

7. ATPG技巧

 

8. Fault simulation

 

9. Fault 要点

 

10. Fault 技巧

 

11. Fault 流程

 

12. Scan

 

13. 扫描技巧

 

14. 扫描要点

 

15. 扫描流程

 

16. JTAG

 

17. Logic BIST

 

18. Test compression

 

19. Memory test

 

20. Memory 测试要点

 

21. Memory测试流程

 

22. Memory测试技巧

 

23. scan chain/ BSD/BIST 概念与设计方法

 

24.DFT 的测试原理/测试方法( D算法 向量产生与仿真)

 

25.BSD 基本单元和JTAG测试 

 

第二阶段 SCAN synthesis

 

1.Scan概念及方法介绍

 

2.Scan实现流程及问题解决

 

3.Scan DRC violation讲解及解决方法

 

4.Scan技巧

 

 

第三阶段 ATPG

 

1.ATPG介绍

 

2.Fault models

 

3.Fault simulation

 

4.ATPG DRC Violation的解决方法

 

5.ATPG patten generation

 

6.测试压缩及方法

 

7.ATPG patten验证

 

8.ATPG技巧

第四阶段 JTAG/1500

 

1.JTAG方法

 

2.JTAG及其扩展应用

 

3.JTAG实现及验证

 

4.JTAG技巧

第五阶段 BIST/MBIST

 

1.BIST/MBIST 方法

 

2.Memory类型介绍

 

3.BIST solution

 

4.MBIST算法

 

5.MBIST验证

 

6.BIST/MBIST 技巧

 




如果您想学习本课程,请预约报名
如果没找到合适的课程或有特殊培训需求,请订制培训
除培训外,同时提供相关技术咨询与技术支持服务,有需求请发需求表到邮箱soft@info-soft.cn,或致电4007991916
技术服务需求表点击在线申请

服务特点:
海量专家资源,精准匹配相关行业,相关项目专家,针对实际需求,顾问式咨询,互动式授课,案例教学,小班授课,实际项目演示,快捷高效,省时省力省钱。

专家力量:
中国科学院软件研究所,计算研究所高级研究人员
oracle,微软,vmware,MSC,Ansys,candence,Altium,达索等大型公司高级工程师,项目经理,技术支持专家
中科信软培训中心,资深专家或讲师
大多名牌大学,硕士以上学历,相关技术专业,理论素养丰富
多年实际项目经历,大型项目实战案例,热情,乐于技术分享
针对客户实际需求,案例教学,互动式沟通,学有所获
报名表下载
联系我们 更多>>

咨询电话010-62883247

                4007991916

咨询邮箱:soft@info-soft.cn  

 

微信号.jpg

  微信咨询

随时听讲课

聚焦技术实践

订制培训 更多>>